波長色散型X熒光光譜儀（WDXRF）-馬爾文帕納科

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x射線熒光光譜儀

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馬爾文帕納科2830 ZT 晶圓分析儀提供了用于測量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 圓晶分析儀專門針對半導體和數據存儲行業而設計，該儀器可為多種晶片（厚達 300 mm）測定層結構、厚度、摻雜度和表面均勻性。

更新日期：2021-05-21

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